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NanoSystem NV-1800 3D轮廓仪
更新时间:2019-03-24
产品型号:
描述:NanoSystem NV-1800 3D轮廓仪属于紧凑式机型,但仍具有很高的测试性能。简单的操作性和优秀的重复性使得它在研发和分析不良产品方面发挥着重要作用。

NanoSystem NV-1800 3D轮廓仪的详细资料:

NanoSystem NV-1800 3D轮廓仪是一种手动的非接触式三维轮廓仪,适用于任何表面。其设计简单,忠实于基本功能。Nanosystem利用自己的patented算法和白光干涉技术创造H/WS/W。Patented的WSI/PSI技术测量各种表面材料和参数,包括表面纹理、形状、台阶高度和更高(0.1nm-垂直和0.2 um-横向分辨率)的二维和三维剖面。

白光扫描干涉技术(WSI)是一种测量高分辨率(0.1nm)、高速测量表面积、高度和体积的技术。在不破坏任何破坏的情况下,纳米系统的WSI技术(白光扫描干涉法)能在几秒钟内从0.1nm10000μm范围内测量样品,并提供真实的样品三维形状。此外,重复性小于0.1%(1σ),无论放大,z轴分辨率为0.1nm。基于纳米系统技术的精度(高精度、重复性和重复性),该产品可广泛应用于半导体、印刷电路板、显示、工程部件、化工材料、光学部件、生物、R&D等领域。

NanoSystem NV-1800 3D轮廓仪提供高分辨率(0.1nm)10万倍放大率(10 Mm)和高清晰度图像,在0.1nm10000 μm范围内,在2秒内测量样品,提供真实的2D/3D样品形貌,无需准备(只需将样品直接放在样品台上),测量任意尺寸和几乎任何材料的样品(反射率为1%)

 

NV-1800的优点

·       优良的测量精度

·       无需振动台面

·       抗振动的紧凑设计

·       快速测量速度

·       友好的测量界面

·       全手动操作

·       2D3D多功能性能

 

主要功能

·       3D 形貌测量- 粗糙度 (ISO 25178) 和平整度 (选项)

·       高度,深度,宽度(从亚纳米到10)·

·       面积信息(体积,面积)-2D, 3D Measurement

 

产品规格:

·       干涉物镜:单透镜可选

·       扫描范围:0-180um270um可选)

·       垂直分辨率:WSI:﹤0.5nm PSI :﹤0.1nm

·       倾斜台:±3°

·       Z轴行程:30mm(手动)

·       工作台面:50X50mm(手动)

 

应用领域:

Nano View系列为LCD(液晶显示器)、IC Package(芯片封装)、Substrate(基板)、Build-up PCB(积层板)、MEMS(微机电系统),Engineering Surfaces(工程表面)等等领域提供纳米级别精度的量测。

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